RnR-ExM: Robust Non-rigid Registration Challenge for Expansion Microscopy Volumes

Besier, E., Zhang, R., Bando, Y., Alawi, M., Quemener, Y., Kapoor, C., Hoffmann, M., Dalca, A., Casamitjana, A., Arganda-Carreras, I., Fleishman, G., Jia, X., Duan, J., Mok, T. C. W., Li, Z., Schroeder, M. E., Boyden, E., Pfister, H., Wei, D.

DOI: 10.64898/2026.10.22.760871

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.