Uncertainty-aware Feedback Loop Diagnosis: integrating reinforcement learning and conformal prediction for reliable wafer defect classification

Aleksandr Dekhovich, Carlas Smith, Oleg Soloviev

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.