Direct Observation of Electron Trapping States in SiO$_2$ by Constant-Final-State Photoelectron Yield Spectroscopy: Insights into the Electron-Transfer Model of Contact Electrification

Renjiro Shibuya, Manato Tateno, Runa Hoshikawa, Tomohiro Ishibashi, Hirohiko Fukagawa, Hisao Ishii

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.