Beyond CLIP: Calibrated (Few-Shot) Defect Detection With System One Decision Models

Fadel M. Megahed, Ying-Ju Chen

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.