Current-Confined Formation of a Buried Ge/Si Free Surface for Defect Filtering

Youcef A. Bioud, Meriem Bouchilaoun, Waldemar Schreiber, Redouane Amrar, Gilles Patriarche, Ali Soltani, Stefan Janz

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.