A Process-Informed, Photorealistic Digital Twin for Vision-Based Inline Inspection of C-SMC Strip Deposition

Patrick Flore, Fabian Röder, Kevin Chen, Andreas Gebhard

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.