Task-driven sparse-view planar X-ray computed tomography for axial metrology

Yibin Tian, Shuming Yang, Wolfgang Heidrich

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.