Statistically Robust Characterization of Polaron and Bipolaron Intrinsic Traps in Amorphous Silica Reveals the Role of Network Flexibility in Electron Localisation

Robin Delhomme, Jonathon Cottom, Emilia Olsson

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.