Physics-driven self-supervised learning for quantitative high-fidelity structured illumination microscopy

Tang, Y., Luo, Z., Zhu, X., Wang, W., Ge, X., Li, M., Chen, C., Chen, T., Chen, C., Xi, P., Wen, G.

DOI: 10.64898/2026.06.12.731778

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.