Correcting Multiple Scattering Enables Dynamical Electron Crystallography in Standard Workflows

Hopkins, D. R., Low-Beer, T., Ding, Z., Vasireddy, P. C. R., Spoth, K. A., Crawley, M. R., Clabbers, M. T. B., Nakane, T., Gallagher-Jones, M., Martynowycz, M. W.

DOI: 10.64898/2026.10.24.761591

На странице источника доступны аннотация, полный текст или сведения о том, где его прочитать. Препринт может ещё не пройти рецензирование; проверьте, появилась ли журнальная версия.